如何有（yǒu）效（xiào）的利用高低（dī）溫試驗箱對芯片進行測試

      東莞市勤卓環境測試設備有限公司一直非常專注（zhù）於（yú）芯片行業的老化測試需求的研發和設計，長期以來，先後與國內各大（dà）芯片企業達成了優質良性的合作，也對於芯片的老化測試（shì）有著一定的了（le）解和經驗的累計，今天就針對高低（dī）溫（wēn）試驗箱該類型的測試方法和意義進行（háng）介（jiè）紹和分（fèn）享。

      高低溫試驗箱具備（bèi）高溫，低溫，常溫等不同溫度的（de）設定，在芯片行業（yè）廣泛用於老化測試，今天海銀試驗裝備分享高低溫試驗箱對於芯片測試的方法和意義介（jiè）紹。

      芯片最終產品檢測(FT)，是在晶片通過了封裝測試後對整個晶片進行的檢測。在封裝過程中經常用來過（guò）濾有缺陷的芯（xīn）片和無法覆蓋的芯片測試，如高速測試等。一般來說，封裝後的測試，需要用（yòng）到高低溫試驗（yàn）箱，來對芯片進行包括高溫（wēn）、室溫、低溫、抽（chōu）樣測試等（děng）幾個測試環節。

      芯片包裝後（hòu），將被送（sòng）往最終測試:在不利環（huán）境下強製不穩定的芯片無效。試驗（yàn）過程中，旋轉機內的高（gāo）速運動會使焊接（jiē）接頭與焊接墊片機械結合不牢固。溫度過高會加速電子元件的失效。晶片最終會被（bèi）放入特別的擱板，在正常運行數天後，這就是所謂的老化試驗。一些微（wēi）處理器芯片在預設頻率下無法工作，但它們可以在較低頻率下正（zhèng）常工作（zuò），因此它們被用作低價低速處理器芯（xīn）片。老化測試成功（gōng）的芯片可（kě）以賣給客戶。公（gōng）司主要客戶為電子行（háng）業（yè），合格的芯片將應用於電子係統電路板。