• 適用於航空（kōng）航（háng）天（tiān）產品、信息電子儀器（qì）儀（yí）表、材料、電工、電子產品、各種電子元器件，在（zài）高溫、低溫或濕熱環境下的各項性（xìng）能指標的（de）檢驗。試驗（yàn）數據可通過U盤拷貝，電腦無需安裝任

  

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• 適用於航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子（zǐ）產品、各種電子元器件，在高溫、低溫或濕熱環（huán）境下的各項性能指標的檢驗（yàn）。試驗數據可通過U盤（pán）拷（kǎo）貝，電腦無需安（ān）裝任

  

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• 適用於航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各種電（diàn）子元器件，在高溫、低溫或濕熱環（huán）境下的各項性能指標的檢驗。試驗數（shù）據可（kě）通過U盤拷貝，電腦無需安（ān）裝（zhuāng）任

  

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• 適（shì）用於航空航（háng）天產品、信息電（diàn）子儀（yí）器（qì）儀表、材料、電工、電子產品、各種電子元器件，在高溫、低溫或（huò）濕熱環境下的（de）各項性能指標的（de）檢驗。試驗數據可通過U盤拷貝，電腦無需安裝任

  

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• 適用於航空（kōng）航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各種（zhǒng）電子元器件，在高溫、低溫或濕熱環境下的各（gè）項性能指標的檢驗。試驗數據可通過U盤拷貝，電腦無（wú）需安裝（zhuāng）任

  

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• 適用於航空（kōng）航天產品、信（xìn）息電子儀器儀表、材料、電工（gōng）、電子產（chǎn）品、各（gè）種電子元器件（jiàn），在高溫（wēn）、低溫或濕熱環境下的各項性能（néng）指標的檢驗。試驗數據可通過U盤拷貝，電腦無需安裝任

  

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• 適用於航空航天產品、信息電（diàn）子（zǐ）儀器儀（yí）表、材料、電工、電子產品、各種電子元器件（jiàn），在高溫、低溫或濕熱環境下的各項性能指標的檢（jiǎn）驗。試驗數據可通過U盤拷貝，電腦無需安裝任

  

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• 適用於航空航天產品、信息電子儀器儀表（biǎo）、材料、電工、電（diàn）子產品、各種電子（zǐ）元器件，在高（gāo）溫、低溫或濕熱（rè）環境下的各項性能指標的檢驗。試驗數據可通過U盤拷貝（bèi），電腦（nǎo）無需安裝任

  

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• 適用於航（háng）空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各種電（diàn）子元器件，在高溫、低溫（wēn）或濕熱（rè）環境下的各項性能指標的檢驗。試（shì）驗數據可通過U盤拷貝，電腦無需安裝任

  

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